Содержание >>
Физика ядра..., Стр. 58

Весь тракт проводки пучка составляет около 28 м. Среднее время пролёта осколка занимает несколько микросекунд, что позволяет проводить спектроскопию нейтронно-обогащённых ядер задолго до b-распада. Основой схемы являются скрещенные электрическое цилиндрическое и магнитное поля, отклоняющие пучки в одной плоскости. Пучок ионов (е+=15-20) от мишени до детектора транспортируется по сквозному высоковакуумному тракту.

В качестве базового магнита использован трёхсекционный магнит типа "JOZEF" с неоднородным центральным полем (Hвх.=Const (60°), Hц.~1/r (180°), Hвых.=Const (60°)), ранее функционировавший в масс-сепараторе на реакторе при Юлихском университете (Германия). Центральное поле (180°) магнита обеспечивает высокую дисперсию по массам. Входная и выходная секции однородного магнитного поля обеспечивают дополнительную фокусировку ионов.
Параметры магнита:
B = 12 кГс,
I = 325 А,
U = 350 В,
P = 120 кВт,
Mобщ = 90 т.

Цилиндрический дефлектор служит для компенсации энергетической дисперсии в 1/r поле магнита. Из технологических соображений его секторное электрическое поле разделено конструктивно на три модуля по 12°.

Количество и расположение квадрупольных линз введено для согласования параметров трансмиссии и корректировки дисперсии отдельных элементов. Каждая секступольная линза корректирует отдельно выбранный вид аберрации.

 

Рис. 2. Магнит типа "JOZEF":
1 - вход пучка;
2 - выход пучка из анализатора;
3 - прямой пучок;
4 - полюсные наконечники;
5 - обмотка воз-буждения;
6 - вакуумная камера;
7 - ярмо;
8 - гидравлические опоры.

 

 

Рис. 3. Модуль фокусирующего электростатического дефлектора:
1 - сильфон; 2 - отклоняющие
пластины (дальняя +); 3 - корпус;
4 - регулировочный столик.

Рис. 4. Модуль (первый на тракте) электростатических линз:
1- сильфон; 2 - квадрупольная линза;
3 - секступольная линза; 4 - корпус;
5 - регулировочный столик.

Позиции каждого элемента в схеме проводки пучка ионов строго определены и фиксированы. Универсальность прибора (без изменения положения и конструкции отдельных элементов) в зависимости от требований к проводимым исследованиям достигается вариацией разрешения по массам в интервале от R » 800 до R » 15000 при незначительной потере в трансмиссии при использовании тонкой мишени делящихся веществ (sf > 10-2 б).

 


<<предыдущаястр. 58
следующая>>