изогнутый кристалл кварца, плоскости (110). Специальный вырез, для которого отсутствует упругая квазимозаичность и другие типы деформации, приводящие к отклонению равновесной формы изгибаемой пластины от цилиндрической.

интерферометр на высокочастотных голографических решетках (патент ПИЯФ). Чрезвычайно малая длина оптического пути (0,05 - 0,1 мм) обеспечивает высокую стабильность по отношению к вибрациям, изменению температуры, влажности и давления воздуха в экспериментальном зале реактора.

Использование (n,n'g)-реакций позволяет получать большие скорости отдачи ядра и при этом наблюдать не только допплеровское уширение, но и смещение линии при наблюдении под разными углами по отношению к направлению падающих нейтронов.

Общий вид спектрометра ГСК-2М показан на рис.3.

Двухкристальный дифракционный спектрометр

В настоящее время в ПИЯФ создан двухкристальный дифракционный спектрометр для измерений рентгеновских и g-линий с относительной точностью (1-3)x10^-6 и энергетическим разрешением до 10^-5 [2]. Основными преимуществами такого прибора являются следующие:

• двухкристальный спектрометр является универсальным прибором, позволяющим проводить измерения энергии излучений от » 3 кэВ до » 20 кэВ в геометрии "на отражение" и от » 20 кэВ и выше - в геометрии "на прохождение", при этом переход от одной схемы к другой осуществляется простой заменой рабочих кристаллов и не требует изменений в конструкции установки;
• отсутствуют апертурные аберрации;
• нет дополнительного уширения дифракционного профиля, связанного с изгибом кристалла, что позволяет достигнуть разрешения, определяемого только свойствами рабочего кристалла.

Дифракционный спектрометр позволяет проводить измерения энергий рентгеновского и g-излучения вплоть до E_x » 3 кэВ (угол Брэгга, q_x » 60°). Измерения углов поворота каждого из кристаллов производятся с помощью лазерных гониометров. Дискрет измерения угла » 0,03І, диапазон измеряемых углов от 0° до 360°.

Общий вид спектрометра МАДИС показан на рис.4.